Typ: | spektrofotometr jednowiązkowy z wiązką odniesienia (system RDS) |
Zakres widmowy: | 190 – 1100 nm |
Układ optyczny | monochromator |
Źródło światła: | lampa halogenowa (światło widzialne), lampa deuterowa (zakres UV) |
Kalibracja długości fali: | automatyczna |
Wybór długości fali: | automatyczny, ręczny, kody paskowe |
Dokładność długości fali: | ± 1 nm |
Rozdzielczość długości fali: | 0.1 nm |
Szerokość połówkowa: | < 2 nm |
Zakres fotometryczny: | ± 3.0 E w zakresie długości fali 200 – 900 nm |
Liniowość fotometryczna: | < 0.5% do 2 E; ≤ 1% dla > 2 E |
Dokładność fotometryczna: | 0.005 E dla E 0.0 – 0.5; 1% dla E 0.5 – 2.0 |
Światło rozproszone: | < 0.05% |
Tryby pracy: | ponad 200 zaprogramowanych krzywych, 100 metod własnych, absorbancja, transmisja, faktor, kinetyka, dwupunktowa kalibracja, widmo, nefelometryczny pomiar mętności |
Pomiar mętności: | nefelometryczny, 0.1 – 1000 NTU |
Gniazdo pomiarowe: | uniwersalne (bez adaptera) do kuwet okrągłych 16 mm oraz kuwet prostokątnych 2, 10, 20, 40, 50 mm |
Wyświetlacz: | wyświetlacz HD, dotykowy z powłoką antyrefleksyjną (PCAP), z podświetleniem LED |
Obsługa: | technologia kodów paskowych, ekran dotykowy, menu nawigacji w formie ikon |
Pamięć: | karta 16 GB Micro SDHC, 5000 wyników pomiarów/skanu, zgodnie z GLP |
Interfejsy: | LAN, 2 × USB (A), 1 × USB (B), RS 232 |
Aktualizacja oprogramowania: | bezpłatnie, przez Internet/PC i pamięć USB |
Warunki pracy: | 10 – 40 °C, maks. 80% wilgotności względnej (bez kondensacji) |
Światło zewnętrzne: | niewrażliwy, otwarte gniazdo pomiarowe |
Zasilanie: | 110 – 240 V, ~50/60 Hz |
Wymiary (s × g × w): | 440 × 400 × 170 mm |
Masa: | 6.5 kg |
Gwarancja: | 2 lata |