PL 
EN 
Opis produktu – TE 1250-0.1F | Miernik grubości powłok (F) do 1250 µm
Miernik służy do nieniszczącego, szybkiego i precyzyjnego pomiaru grubości powłoki wykonanej z materiałów niemagnetycznych (farba, tworzywo, emalia, cynk, aluminium, chrom, itp.) na podłożach magnetycznych (stal, itp.) – wersja F.
- Sondy na przewodzie do pomiaru w miejscach trudno dostępnych
- W zestawie folie i podłoże zerowe do kalibracji
- Dostarczany w twardej walizce
- Funkcja kalibracji dwupunktowej – umożliwia uzyskanie dokładności około 1% wartości mierzonej
- Możliwość wyboru jednostki pomiarowe: µm, cale (mil)
- Funkcja automatycznego wyłączania
