Name: MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm
Brand: ElektroPhysik

MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm

Dodaj do zapytania

MiniTest 70 jest lekkim i poręcznym miernikiem grubości powłok w kształcie długopisu z wbudowanym czujnikiem o wielu zaletach:

Precyzyjny pomiar grubości powłoki do 3 mm(F) lub 2,5 mm(N)
Czujnik kombinowany automatycznie rozpoznaje rodzaj podłoża i ustawia odpowiedni tryb pomiaru: prądów wirowych lub indukcji magnetycznej (nie w modelu E)
Odporne na zużycie sondy o wysokiej żywotności
Waga tylko 80 gramów

Za pomocą miernika MiniTest 70 możliwe są nieniszczące pomiary niemagnetycznych powłok (farba, tworzywo sztuczne, chrom, itd.) na ferromagnetycznym podłożu (stal) oraz powłok izolacyjnych (lakier, emalia, tworzywo sztuczne itp.) na przewodzących podłożach (aluminium, miedź, austenityczna stal szlachetna).

Łożyskowane sprężynowo czujniki są wyposażone w odporne na zużycie końcówki sond, to oznacza: szczególnie wysoką żywotność, również w przypadku pomiarów na szorstkich powierzchniach.

Opis produktu – MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm

Mierniki grubości powłok MiniTest 70

MiniTest 70 jest lekkim i poręcznym przyrządem do pomiaru grubości warstw w formie pisaka z wbudowanym czujnikiem. Umożliwia on przeprowadzanie nieniszczących pomiarów

Warstw niemagnetycznych (farba, tworzywo sztuczne, chrom, itd.) na ferromagnetycznym podłożu (stal)
Warstw izolujących (lakier, emalia, tworzywo sztuczne, itd.) na podłożach przewodzących (aluminium, miedź, austenityczna stal szlachetna) (tylko dla typów FN)

Elastycznie ułożone czujniki wyposażone są w odporne na zużycie końcówki sondy i zapewniają dłuższy okres użytkowania także przy przeprowadzaniu pomiarów na podłożach chropowatych i ostrych krawędziach.

Wszechstronny i dokładny miernik grubości z zintegrowanym czujnikiem. Idealne narzędzie do pomiaru powłok na powierzchniach ferromagnetycznych i nie ferromagnetycznych.

Miernik występuje w dwóch wersjach do pomiaru powłok na podłożach ferro i nie-ferromagnetycznych.
- MiniTest 70F – do pomiaru wszelkich powłok na ferromagnetycznych podłożach
- MiniTest 70FN – do pomiaru wszelkich powłok na ferro i nie ferro-magnetycznych podłożach (np. stal konstrukcyjna, karoseria samochodu, aluminium, miedź, mosiądz, itp.)
IDEALNY DO POMIARÓW POWŁOK OGNIOOCHRONNYCH

WARIANTY

MiniTest 70 F

Ze statystyką (ilość wartości mierzonych, wartość średnia, odchylenie standardowe, maksimum, minimum).
Tylko dla podłoży ferromagnetycznych (np. stali).
Zakres pomiarowy od 0 do 3 mm.
Umożliwia kalibrację jednopunktową oraz dwupunktową.

MiniTest 70 FN

Ze statystyką (ilość wartości mierzonych, wartość średnia, odchylenie standardowe, maksimum, minimum).
Zarówno dla podłoży ferromagnetycznych (np. stali) jak i dla podłoży nieferromagnetycznych (metale nieżelazne, np. aluminium, mosiądz, itd.).
Zakres pomiarowy od 0 do 3 mm na podłożach stalowych i od 0 do 2,5 mm na metalach nieżelaznych.
Umożliwia kalibrację jednopunktową oraz dwupunktową.

MiniTest 70 B-FN

Zarówno dla podłoży ferromagnetycznych (np. stali) jak i dla podłoży nieferromagnetycznych (metale nieżelazne, np. aluminium, mosiądz, itd.).
Zakres pomiarowy od 0 do 3 mm na podłożach stalowych i od 0 do 2,5 mm na metalach nieżelaznych.
Umożliwia kalibrację jednopunktową.

MiniTest 70 E-FN

Zarówno dla podłoży ferromagnetycznych (np. stali) jak i dla podłoży nieferromagnetycznych (metale nieżelazne, np. aluminium, mosiądz, itd.).
Zakres pomiarowy od 0 do 3 mm na podłożach stalowych i od 0 do 2,5 mm na metalach nieżelaznych.

Podłoże	Ferro i Nieferro, Ferromagnetyczne
Rodzaj sondy	Wbudowana

Parametr	Wartość
Zakres pomiarowy	F: 0 mm – 3 mm N: 0 mm – 2,5 mm
Zasada pomiaru	indukcja magnetyczna/prądy wirowe
Przetwarzanie sygnału	32-bitowe przetwarzanie sygnału zintegrowane z czujnikiem (SIDSP®)
Dokładność	± (1,5 μm + 3% odczytu) z kalibracją 1-punktową, ± (0,06 mils + 3% odczytu) z kalibracją 1-punktową ± (1,5 μm + 2% odczytu) z kalibracją 2-punktową, ± (0,06 mils + 2% odczytu) z kalibracją 2-punktową
Powtarzalność	± (1 μm + 1% odczytu) / ± (0,04 milsa + 1% odczytu)
Rozdzielczość w niskim zakresie	0,5 μm
Minimalny promień krzywizny wypukły	5 mm
Minimalny promień krzywizny wklęsły	40 mm
Minimalna grubość podłoża	F: 0,5 mm N: 0,04 mm
Jednostki miary	metryczne/imperialne, do wyboru
Wzorcowanie	kalibracja standardowa, 1-punktowa i 2-punktowa
Statystyka	n, x, s, Min, Max
Temperatura	-10 °C – 60 °C 14 °F – 140 °F
Temperatura przechowywania	-20 °C – 70 °C -4 °F – 158 °F
Zasilacz	1x bateria AA (Mignon)
Międzynarodowe standardy	DIN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, ASTM B244, B499, D7091, A376
Wymiary	długość ok. 157 mm, Ø 27 mm; 5,2″ długość, Ø 1,06″
Ciężar	~ 80 gramów, 2,8 uncji

Przyrząd MiniTest 70 z wbudowanym czujnikiem
Instrukcja obsługi
1 bateria AA, typ LR06
Referencyjna(e) płytka(i) do zerowania
Standard kontrolny
Torba na pasku

Aparatura Laboratoryjna

Automatyka i elektryczna aparatura łączeniowa

Elektryczna aparatura pomiarowa

Drogownictwo, budownictwo i geotechnika

Zestawy edukacyjne – stoły elektrotechniczne

MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm

Opis produktu – MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm

Mierniki grubości powłok MiniTest 70

WARIANTY

MiniTest 70 F

MiniTest 70 FN

MiniTest 70 B-FN

MiniTest 70 E-FN

Dodatkowe informacje – MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm

Specyfikacja – MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm

Wyposażenie opcjonalne – MiniTest 70 | Mierniki grubości powłok (F) do 3000 µm, (FN) do 2500 µm

Formularz kontaktowy

Miernik wielofunkcyjny Sonel MPI-530 + certyfikat kalibracji WMPLMPI530

Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator

Tester bezpieczeństwa elektrycznego GPT-9804 GW Instek

Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK

Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux

Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością

PosiTector 6000 | Mierniki grubości powłok, DeFelsko

Mikroskopy odwrócone serii AE2000