Kontakt:
Znajdź nas:
Twój schowek
(0)
0 szt.(0,00 )
Zaloguj się
Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P5.3.4 Interferometr Michelsona – Leybold

Kategorie:

Dodaj do zapytania

Opis

 

P5.3.4.1 Konfigurowanie interferometru Michelsona na płycie z laserem optycznym

P5.3.4.2 Określanie długości fali lasera He-Ne za pomocą interferometru Michelsona

P5.3.4.3 Określanie długości fali świetlnej lasera He-Ne za pomocą interferometru Michelsona.

Ustawienie na ławie optycznej.

P5.3.4.4 Określenie czasu spójności oraz szerokości linii spektralnych za pomocą interferometru Michelsona

P5.3.4.5 Badanie wywołanego ciśnieniem poszerzania linii spektralnych za pomocą interferometru Michelsona.

P5.3.4.6 Określanie linii podziału dwóch linii spektralnych za pomocą interferometru Michelsona

 

 

 

W interferometrze Michelsona, element optyczny dzieli koherentną wiązkę światła na dwie części. Składowe wiązki przebywające różne ścieżki są odbijane na siebie i ostatecznie rekombinowane. Jako, że dwie składowe wiązki maja stałą zależność fazową między sobą, obraz interferencyjny występuje tylko, gdy są one nałożone na siebie. Zmiana długości drogi optycznej jednej składowej wiązki zmienia zależność fazową i tym samym obraz interferencji.

Zatem, mając stały współczynnik załamania, zmiana obrazu interferencyjnego może być użyta do wyznaczenia zmiany ścieżki geometrycznej, np. zmiany w długości spowodowane rozszerzalnością cieplną lub efektami pola elektrycznego lub magnetycznego. Gdy ścieżka geometryczna jest niezmienna, wtedy konfiguracja ta może być użyta do badania zmiany współczynnik załamania spowodowanego zmianami w np. ciśnieniu, temperaturę i gęstości.

W doświadczeniu P5.3.4.1, interferometr Michelsona jest złożony na odpornej na wstrząsy podstawy lasera optycznego. Układ ten jest idealny do demonstracji efektu wstrząsów mechanicznych i smużenia powietrza.

W doświadczeniu P5.3.4.2, długość fali lasera He-Ne jest wyznaczana ze zmiany obrazu interferencyjnego poruszając lustro interferometru korzystając z odległości przesunięcia Ds lustra. Podczas tego przesunięcia, linie interferencyjne na ekranie obserwacyjnym poruszają się.

Podczas analizy zliczane są maksima lub minima interferencji przechodzące przez nieruchomy punk na ekranie podczas, gdy zwierciadło płaskie jest przesuwane. Dla długości fali l, zastosowanie ma następująca zależność:

 

            

Z: zliczona liczba natężeń maksimów lub minimów

 

 

 

W doświadczeniu P5.3.4.3, interferometr Michelsona jest złożony na ławie optycznej. Długość fali lasera He-Ne jest wyznaczana ze zmiany obrazu interferencyjnego podczas poruszania zwierciadła interferometru korzystając z odległości przesunięcia Ds zwierciadła.

 

Koherencja czasowa może być badana dzięki interferometrowi Michelsona. Maksymalna różnica czasowa Dt, podczas której interferencja może być obserwowana nazywana jest koherencją czasu. Długość koherencji określana jest jako odległość DsC przebyta przez światło w czasie koherencji. Typowe długości koherencji to kilka mikronów w lampach żarowych, kilka milimetrów w lampach spektralnych i wiele metrów w laserach. Dodatkowo, czas koherencji DtC jest połączony z szerokością spektralną Dn lub Dl źródła światła:

 

 

W doświadczeniu P5.3.4.4 wyznaczana jest długość fali l zielonej linii widmowej lampy spektralnej Hg. Aby zmierzyć długość koherencji mierzone jest położenie ruchomego zwierciadła płaskiego w miejscu, gdzie interferencja jest ledwo widzialna. Z różnicy długości drogi wyznaczana jest długość koherencji DsC, czas koherencji Dt C oraz szerokość linii Dn linii widmowej.

W doświadczeniu P5.3.4.5 wyznaczane są długości koherencji i szerokości spektralne zielonej linii widmowej lampy spektralnej Hg oraz wysokoprężnej lampy rtęciowej i wyniki są porównywane.

Wyższe ciśnienie w wysokoprężnej lampie rtęciowej prowadzi do znacznego poszerzenia linii widmowych powodujące skrócenie długości koherencji.

W doświadczeniu P5.3.4.6 wyznaczana jest średnia długość fali l i rozszczepienie linii Dl dubletu żółtej linii. Dla dwóch różnych najbliższych długości fali l1 i l2 koherentna superpozycja dwóch wiązek prowadzi do dudnienia:

 

Przy wyraźnych różnicach grubości warstwy próbki kontrast pomiędzy jasnymi i ciemnymi pierścieniami obrazu interferencyjnego jest duży podczas, gdy dla innych różnic grubości warstwy kontrast zanika całkowicie.

 

 

 

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Produkty powiązane

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś

    • Miernik MPI-530 z wyposażeniem standardowym Przy zakupie miernika otrzymasz rabat na ponowne wzorcowanie miernika w laboratorium Merazet S.A. Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich pomiarów w instalacji elektrycznej zgodnie…
      Sonel
    • Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator Parametry które wyróżniają oscyloskopy serii GDS100A-U od konkurencji: pamięć 2M – Technologia MemoryPrime *. funkcja GO/NoGO funkcja Data Logger – rejestrator…
      GW Instek
    • Tester bezpieczeństwa elektrycznego GPT-9804 GW Instek Ten produkt kupisz też w naszym sklepie korzystając z możliwości płatności online oraz dostawy w 48 h (w dni robocze): Sprawdź badanie wytrzymałości izolacji …
      GW Instek
    • Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK Wysokiej jakości przenośny cyfrowy oscyloskop z izolowanymi kanałami 600V KAT III,  o paśmie 20 MHz. Funkcje i parametry 19 automatycznych pomiarów, 2 niezależne multimetry, rejestracja…
      Metrix
    • Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux Analizator CA 8335 to idealne rozwiązanie do obserwacji, monitorowania oraz rejestracji zdarzeń oraz parametrów jakości energii elektrycznej. Został zaprojektowany aby ułatwić i…
      Chauvin Arnoux
    • Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością Komory do symulacji warunków środowiskowych serii MKF marki BINDER nadają się idealnie do wszelkich testów zimna i ciepła,…
      Binder
    • Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
      Defelsko
    • Mikroskopy odwrócone serii AE2000 Cena dla modelu AE2000 Binocular (halogen 30W) Mikroskop odwrócony AE2000 został stworzony z myślą o rutynowej obserwacji hodowli komórkowych. Najnowsza seria obiektywów z systemu CCIS® gwarantuje…
      Motic

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik

    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: