Skanowanie Debye’a-Scherrera: określanie odstępów płaszczyzn sieci polikrystalicznych próbek proszkowych

Opis produktu – Skanowanie Debye’a-Scherrera: określanie odstępów płaszczyzn sieci polikrystalicznych próbek proszkowych

Doświadczenie P7.1.2.4 rejestruje wzór Debye’a-Scherrera za pomocą licznika okien końcowych zamiast filmu rentgenowskiego. Odbicia dyfrakcyjne próbki drobnego proszku są rejestrowane w funkcji kąta dyfrakcji. Piki intensywności xc2 xa0 w widmie dyfrakcyjnym umożliwiają obliczenie separacji sąsiednich płaszczyzn sieciowych.