TG 1250-0.1 FN | Miernik grubości powłok (FN) do 1250 µm

Opis produktu – TG 1250-0.1 FN | Miernik grubości powłok (FN) do 1250 µm

• Pamięć 99 wartości, mini statystyka: wartość średnia, min, max;
• Kalibracja dwupunktowa;
• Sonda FN na przewodzie;

Miernik służy do nieniszczącego, szybkiego i precyzyjnego pomiaru grubości powłoki wykonanej z materiałów niemagnetycznych (farba, tworzywo, emalia, cynk, aluminium, chrom, itp.) na podłożach magnetycznych (stal, itp.) – wersja F i na podłożach niemagnetycznych (aluminium, itp.) – wersja N.

• Duży podświetlany wyświetlacz
• Interfejs RS-232
• W zestawie folie i podłoża zerowe do kalibracji
• Dostarczany w twardej walizce
• Funkcja kalibracji dwupunktowej – umożliwia uzyskanie dokładności około 1% wartości mierzonej
• Możliwość wyboru jednostki pomiarowe: µm, cale (mil)
• Funkcja automatycznego wyłączania
• Funkcja pomiaru ciągłego i punktowego
• Statystyka: średnia, minimum, maksimum
• Pamięć wewnętrzna do 99 wartości