Kontakt:
Znajdź nas:
Twój schowek
(0)
0 szt.(0,00 )
Zaloguj się
Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P5.5.1 Wartości i metody pomiarowe inżynierii oświetlenia – Leybold

Kategorie:

Dodaj do zapytania

Opis

P5.5.1.1 Określanie gęstości strumienia promieniowania oraz natężenia światła lampy halogenowej

P5.5.1.2 Określanie natężenia światła w funkcji odległości od źródła. Rejestracja i analiza za pomocą CASSY

P5.5.1.3 Sprawdzenie prawa promieniowania Lamberta

Dwa typy wielkości używane są do określnie jasności źródeł światła: wielkości odnoszące się do fizyki radiacji, opisujące energię radiacji w zakresie pomiarów oraz wielkości odnoszące się do techniki oświetlenia, które opisują subiektywną percepcję jasności w odniesieniu do czułości widmowej ludzkiego oka.

Pierwsza grupa obejmuje natężenie promieniowania (irradiacja) Ee, które jest mocą promieniowana na jednostkę powierzchni Fe. Jednostką pomiaru są waty na metr kwadratowy.

Porównywalną wielkością w technice oświetleniowej jest natężenie oświetlenia E, tj. emitowany strumień świetlny na jednostkę powierzchni F, jest mierzone w lumenach na metr kwadratowy lub luksach (lux).

W doświadczeniu P5.5.1.1, irradiacja jest mierzona za pomocą stosu termoelektrycznego Molla i strumień świetlny mierzony jest za pomocą luksomierza. Luksomierz jest dostosowany do czułości spektralnej ludzkiego oka V (l) poprzez filtr umieszczony przed fotoelementem. Lampa halogenowa służy za źródło światła. Z jego widma, większość światła widzialnego jest ekranowana za pomocą kolorowych filtrów; następnie filtr ciepła jest używany do absorbcji składowej podczerwieni promieniowania.

Doświadczenie P5.5.1.2 demonstruje, że natężenie światła jest proporcjonalne do kwadratu odległości pomiędzy punktowym źródłem światła i oświetlaną powierzchnią.

Celem doświadczenia P5.5.1.3 jest zbadanie rozkładu kątowego promieniowania odbitego od rozpraszające powierzchni odbijającej, np. matowy biały papier. Dla obserwatora powierzchnia wydaje się jednakowo jasna; jednakże, widoczna powierzchnia zmienia się wraz z cos

kąta patrzenia. Zależność natężenia światła jest opisana przez prawo promieniowania Lambert’a:

Ee ( φ ) = Ee ( 0 ) · cos φ

 

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Produkty powiązane

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś

    • Miernik MPI-530 z wyposażeniem standardowym Przy zakupie miernika otrzymasz rabat na ponowne wzorcowanie miernika w laboratorium Merazet S.A. Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich pomiarów w instalacji elektrycznej zgodnie…
      Sonel
    • Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator Parametry które wyróżniają oscyloskopy serii GDS100A-U od konkurencji: pamięć 2M – Technologia MemoryPrime *. funkcja GO/NoGO funkcja Data Logger – rejestrator…
      GW Instek
    • Tester bezpieczeństwa elektrycznego GPT-9804 GW Instek Ten produkt kupisz też w naszym sklepie korzystając z możliwości płatności online oraz dostawy w 48 h (w dni robocze): Sprawdź badanie wytrzymałości izolacji …
      GW Instek
    • Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK Wysokiej jakości przenośny cyfrowy oscyloskop z izolowanymi kanałami 600V KAT III,  o paśmie 20 MHz. Funkcje i parametry 19 automatycznych pomiarów, 2 niezależne multimetry, rejestracja…
      Metrix
    • Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux Analizator CA 8335 to idealne rozwiązanie do obserwacji, monitorowania oraz rejestracji zdarzeń oraz parametrów jakości energii elektrycznej. Został zaprojektowany aby ułatwić i…
      Chauvin Arnoux
    • Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością Komory do symulacji warunków środowiskowych serii MKF marki BINDER nadają się idealnie do wszelkich testów zimna i ciepła,…
      Binder
    • Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
      Defelsko
    • Mikroskopy odwrócone serii AE2000 Cena dla modelu AE2000 Binocular (halogen 30W) Mikroskop odwrócony AE2000 został stworzony z myślą o rutynowej obserwacji hodowli komórkowych. Najnowsza seria obiektywów z systemu CCIS® gwarantuje…
      Motic

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik

    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: