Kontakt
Znajdź nas:
Twój schowek
(0)
0 szt.(0,00 )
Zaloguj się
Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P6.3.7 Zjawisko Comptona przy promieniowaniu Rentgena – Leyblod

Dodaj do zapytania

Opis produktu – P6.3.7 Zjawisko Comptona przy promieniowaniu Rentgena – Leyblod

 

P6.3.7.1 Zjawisko Comptona: weryfikowanie strat energii rozproszonego kwantu promieni rentgenowskich.

P6.3.7.2 Zjawisko Comptona : Pomiar energii rozproszonych fotonów w funkcji kąta rozproszenia.

 

W czasie (początki 1920), gdy cząsteczkowa natura światła (fotony) sugerowana przez efekt fotoelektryczny była debatowana, doświadczenie Comptona – rozproszenie promieni X na słabo związanych elektronach, w 1923 roku dało kolejny dowód na cząsteczkowe zachowanie promieni X w tym procesie.

Compton badał rozpraszanie promieni X przechodzących przez materię. Zgodnie z fizyką klasyczną częstotliwość promieniowania nie powinna zostać zmieniona przez proces rozproszenia. Jednakże, A. H. Compton zaobserwował zmianę częstotliwości rozproszonych promieni X. Zinterpretował to w modelu cząsteczkowym jako zderzenie fotonów promieniowania X i elektronów materiału rozpraszającego. Przyjmując zachowanie całkowitej energii i pędu, energia jest przenoszona z fotonów na elektrony, więc energia rozproszonych fotonów zależy od kąta rozpraszania J.

Doświadczenie P6.3.7.1 weryfikuje przesunięcie Comptona za pomocą licznika okienkowego. Zmiana częstotliwości lub długości fali spowodowana przez proces rozpraszania jest widoczna jako zmiana tłumienia absorbera, który jest umieszczony z przodu lub z tyłu ciała rozpraszającego.

 

Celem doświadczenia P6.3.7.2 jest bezpośrednie zarejestrowanie spektrum energii rozpraszanych promieni X za pomocą detektora energii promieniowania X w funkcji kąta rozpraszania J. Energia E(J) rozpraszanych fotonów pod różnymi kątami jest wyznaczana i porównywana z obliczoną energią otrzymaną z zachowania energii i pędu za pomocą relatywistycznych wyrażeń dla energii:

 

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś
    • Miernik wielofunkcyjny Sonel MPI-530 z wyposażeniem standardowym i certyfikatem kalibracji! Przy zakupie miernika otrzymasz rabat na ponowne wzorcowanie miernika w laboratorium Merazet S.A. Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich…
      Sonel
    • Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator Parametry które wyróżniają oscyloskopy serii GDS100A-U od konkurencji: pamięć 2M – Technologia MemoryPrime *. funkcja GO/NoGO funkcja Data Logger – rejestrator…
      GW Instek
    • GPT-9804 – Tester Bezpieczeństwa Elektrycznego 4-w-1 (AC/DC/IR/GB, 200 VA)   GPT-9804 to najbardziej rozbudowany model serii GPT-9800, łączący w jednym urządzeniu cztery kluczowe testy bezpieczeństwa: Hipot AC, Hipot DC, pomiar…
      GW Instek
    • Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK Wysokiej jakości przenośny cyfrowy oscyloskop z izolowanymi kanałami 600V KAT III,  o paśmie 20 MHz. Funkcje i parametry 19 automatycznych pomiarów, 2 niezależne multimetry, rejestracja…
      Metrix
    • Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux Analizator CA 8335 to idealne rozwiązanie do obserwacji, monitorowania oraz rejestracji zdarzeń oraz parametrów jakości energii elektrycznej. Został zaprojektowany aby ułatwić i…
      Chauvin Arnoux
    • Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością Komory do symulacji warunków środowiskowych serii MKF marki BINDER nadają się idealnie do wszelkich testów zimna i ciepła,…
      Binder
    • Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
      Defelsko
    • Mikroskopy odwrócone serii AE2000 Cena dla modelu AE2000 Binocular (halogen 30W) Mikroskop odwrócony AE2000 został stworzony z myślą o rutynowej obserwacji hodowli komórkowych. Najnowsza seria obiektywów z systemu CCIS® gwarantuje…
      Motic

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik
    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: