Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

TE 1250-0.1 FN | Miernik grubości powłok (FN) do 1250 µm

-20% Pierwotna cena wynosiła: 2 801,25 zł.Aktualna cena wynosi: 2 241,01 zł. (1 821,96 zł netto)

Najniższa cena w ciągu 30 dni: 2 241,00 zł.

Magazyn:

Produkt dostępny na zamówienie

Dodatkowe usługi

Dodaj do zapytania

  • ZAKRES POMIAROWY: do 1250 µm
  • RODZAJ SONDY: dwie sondy na przewodzie, F (pomiar na podłożu magnetycznym) i N (pomiar na podłożu niemagnetycznym)
  • ROZDZIELCZOŚĆ: 0,1 µm <100 µm; 1 µm >100 µm
  • DOKŁADNOŚĆ: 3 % pomiaru lub ± 2,5 µm; po kalibracji dwupunktowej: 1 % pomiaru lub ± 1,0 µm

Opis produktu – TE 1250-0.1 FN | Miernik grubości powłok (FN) do 1250 µm

Miernik służy do nieniszczącego, szybkiego i precyzyjnego pomiaru grubości powłoki wykonanej z materiałów niemagnetycznych (farba, tworzywo, emalia, cynk, aluminium, chrom, itp.) na podłożach magnetycznych (stal, itp.) – wersja F i na podłożach niemagnetycznych (aluminium, itp.) – wersja N.

  • Sondy na przewodzie do pomiaru w miejscach trudno dostępnych
  • W zestawie folie i podłoże zerowe do kalibracji
  • Dostarczany w twardej walizce
  • Funkcja kalibracji dwupunktowej – umożliwia uzyskanie dokładności około 1% wartości mierzonej
  • Możliwość wyboru jednostki pomiarowe: µm, cale (mil)
  • Funkcja automatycznego wyłączania
Podłoże

Ferro i Nieferro

Rodzaj sondy

Na kablu prosta

Model

TE 1250-0,1FN

Zakres pomiarowy

 do 1250 µm

Rozdzielczość [µm]

0,1 µm < 100 µm; 1 µm > 100 µm

Dokładność

standardowo: 3% pomiaru lub ± 2,5 µm; po kalibracji dwupunktowej: 1% pomiaru lub ± 1,0µm

Rodzaj podłoża

magnetyczne i niemagnetyczne

Min. promień zakrzywienia powierzchni

wypukły 3 mm,

wklęsły 50 mm

Temperatura pracy

0°C – 50°C

Zasilanie

4 x 1.5 V AAA

Wyświetlacz

LCD

Jednostki

µm, inch (mil)

Wymiary obudowy

131 x 65 x 28 mm

Obudowa

plastik

Wymiary opakowania

250 x 210 x 53 mm

Waga brutto

0,75 kg

Waga netto

0,08 kg

W zestawie

miernik z bateriami, walizka, płytka zerowa, folie wzorcowe, instrukcja obsługi

Na życzenie

certyfikat kalibracji ISO

 

Wyposażenie opcjonalne:

  • ATC-01 Oprogramowanie do zbierania danych + przewód połączeniowy
  • AFH 12 Konwerter RS232-USB
  • ATE 01 Sonda typu F
  • ATE 02 Sonda typu N
  • Świadectwo kalibracji producenta

Jesteśmy partnerem premium marki Sauter!

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Produkty powiązane
    • PosiTector 6000 | Mierniki grubości powłok, DeFelsko

      PosiTector 6000 | Mierniki grubości powłok, DeFelsko

      Panel PosiTector umożliwia dołączenie dowolnej sondy PosiTector. Akceptuje wszystkie sondy PosiTector 6000, 200, RTR, SPG, DPM, IRT, SST, UTG, SHD, BHI i GLS, ułatwiając konwersję z miernika grubości powłoki na miernik profilu powierzchni, miernik punktu rosy, tester soli rozpuszczalnych, ultradźwiękowy miernik grubości ścianki, tester twardości lub połyskomierz.

      • Zakres pomiaru grubości powłok możliwy do 63,5 mm zależnie od sondy
      • Odporny na uderzenia kolorowy ekran dotykowy 2,8″ z przeprojektowaną klawiaturą umożliwiającą szybką nawigację po menu
      • Obudowa odporna na warunki atmosferyczne, kurz i wodę – klasa IP65
      • Odporna na zużycie rubinowa końcówka sondy, zapewniająca długotrwałą kalibrację
      • Wbudowana kompensacja temperatury zapewnia dokładność pomiaru
      • Automatycznie obracający się wyświetlacz z blokadą Flip Lock
      • Łączność USB, WiFi i Bluetooth z oprogramowaniem PosiSoft dla komputerów PC, Mac i smartfonów
      • Dołączony certyfikat kalibracji wykazujący identyfikowalność z NIST lub PTB (Long Form)

      Spełnia wymagania norm ISO 2178/2360/2808, ISO 19840, ASTM B244/B499/D1186/D1400/D7091/E376/G12, BS3900-C5, SSPC-PA2, US Navy NAVSEA PPI 63101-000, US Navy NAVSEA 009-32, AS 2331.1.4, AS3894.3-B i innych.

      Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
    • TE 1250-0.1F | Miernik grubości powłok (F) do 1250 µm

      TE 1250-0.1F | Miernik grubości powłok (F) do 1250 µm

      • ZAKRES POMIAROWY: do 1250 µm
      • RODZAJ SONDY: na przewodzie, F (pomiar na podłożu magnetycznym)
      • ROZDZIELCZOŚĆ: 0,1 µm <100 µm; 1 µm >100 µm
      • DOKŁADNOŚĆ: 3 % pomiaru lub ± 2,5 µm; po kalibracji dwupunktowej: 1 % pomiaru lub ± 1,0 µm
      Miernik służy do nieniszczącego, szybkiego i precyzyjnego pomiaru grubości powłoki wykonanej z materiałów niemagnetycznych (farba, tworzywo, emalia, cynk, aluminium, chrom, itp.) na podłożach magnetycznych (stal, itp.) – wersja F. Sondy…
      2 208,69 zł (1 795,68 zł netto)
      2 208,69 zł (1 795,68 zł netto)
      Sprawdź szczegóły

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik
    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: