Kontakt
Znajdź nas:
Twój schowek
(0)
0 szt.(0,00 )
Zaloguj się
Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P5.1.3 Zniekształcenia obrazu – Leybold

Kategorie:

Dodaj do zapytania

Opis produktu – P5.1.3 Zniekształcenia obrazu – Leybold

 

P5.1.3.1 Sferyczna aberracja obrazu w soczewce

P5.1.3.2 Astygmatyzm oraz krzywizna pola obrazu w soczewce

P5.1.3.3 Zniekształcenia obrazu w soczewce (beczka i poduszka) oraz aberracja komatyczna

P5.1.3.4 Aberracja chromatyczna na obrazie soczewki

 

Soczewka sferyczna obrazuje tylko punkt w idealnym punkcie, gdy bieg promieni obrazujących przecina oś optyczną pod małymi kątami i kąt padania oraz kąt odbicia także są małe, gdy promień przechodzi przez soczewkę. Jako, że warunek ten jest spełniony w ograniczonym zakresie w praktyce, aberracje (defekty obrazu) są nieuniknione.

Doświadczenia P5.1.3.1 i P5.1.3.2 zajmują się aberracjami ostrości obrazu. W drodze propagacji równoległej do osi optycznej, promienie przyosiowe są scalane w innej odległości do promieni pozaosiowych. Efekt ten znany jako “aberracja sferyczna” jest szczególnie widoczny w soczewkach z ostrymi krzywiznami. Astygmatyzm i krzywizna pola mogą być obserwowane podczas obrazowania długich obiektów wąskimi wiązkami światła. Płaszczyzna ogniskowa jest w rzeczywistości powierzchnią zakrzywioną tak, że obraz na ekranie obserwacyjnym staje się coraz bardziej niewyraźny na krawędziach, gdy środek jest wyraźnie skupiony. Astygmatyzm jest zjawiskiem, w którym mocno ograniczony strumień światła nie produkuje obrazu punktowego, lecz dwie linie prostopadłe do siebie ze skończoną odległością w odniesieniu do osi.

Doświadczenie P5.1.3.3 bada aberracje skali. Blokujące promienie światła przez soczewką powoduje beczkowate zniekształcenie, tj. redukcja skali obrazu ze zwiększającym rozmiarem obiektu. Ekranowanie za soczewką skutkuje w aberracji poduszkowej. “Aberracja komatyczna” jest określeniem dla jednostronnego, pióropuszowego lub kropelkowego zniekształcenia obrazu podczas obrazowania strumieniem światła przechodzącym przez soczewkę pod kątem ostrym

 

Doświadczenie P5.1.3.4 bada aberracje chromatyczne. Są powodowane przez zmianę współczynnika załamania z długością fali i tym samym są nieuniknione podczas pracy ze światłem nie monochromatycznym.

 
Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś
    • Miernik wielofunkcyjny Sonel MPI-530 z wyposażeniem standardowym i certyfikatem kalibracji! Przy zakupie miernika otrzymasz rabat na ponowne wzorcowanie miernika w laboratorium Merazet S.A. Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich…
      Sonel
    • Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator Parametry które wyróżniają oscyloskopy serii GDS100A-U od konkurencji: pamięć 2M – Technologia MemoryPrime *. funkcja GO/NoGO funkcja Data Logger – rejestrator…
      GW Instek
    • GPT-9804 – Tester Bezpieczeństwa Elektrycznego 4-w-1 (AC/DC/IR/GB, 200 VA)   GPT-9804 to najbardziej rozbudowany model serii GPT-9800, łączący w jednym urządzeniu cztery kluczowe testy bezpieczeństwa: Hipot AC, Hipot DC, pomiar…
      GW Instek
    • Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK Wysokiej jakości przenośny cyfrowy oscyloskop z izolowanymi kanałami 600V KAT III,  o paśmie 20 MHz. Funkcje i parametry 19 automatycznych pomiarów, 2 niezależne multimetry, rejestracja…
      Metrix
    • Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux Analizator CA 8335 to idealne rozwiązanie do obserwacji, monitorowania oraz rejestracji zdarzeń oraz parametrów jakości energii elektrycznej. Został zaprojektowany aby ułatwić i…
      Chauvin Arnoux
    • Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością Komory do symulacji warunków środowiskowych serii MKF marki BINDER nadają się idealnie do wszelkich testów zimna i ciepła,…
      Binder
    • Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
      Defelsko
    • Mikroskopy odwrócone serii AE2000 Cena dla modelu AE2000 Binocular (halogen 30W) Mikroskop odwrócony AE2000 został stworzony z myślą o rutynowej obserwacji hodowli komórkowych. Najnowsza seria obiektywów z systemu CCIS® gwarantuje…
      Motic

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik
    Może Cię zainteresować

    Inne kategorie z grupy Zestawy edukacyjne – stoły elektrotechniczne

    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: