Kontakt
Znajdź nas:
Twój schowek
(0)
0 szt.(0,00 )
Zaloguj się
Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P7.1.2 Rozpraszanie promieni Rentgena – Leybold

Dodaj do zapytania

Opis produktu – P7.1.2 Rozpraszanie promieni Rentgena – Leybold

Zestaw doświadczeń: Rozpraszanie promieni Rentgena

Promieniowanie X jest zasadniczym narzędziem do wyznaczania struktury kryształów.

Płaszczyzna sieciowa wewnątrz kryształu jest identyfikowana przez indeksy Millera h, k, l oraz odbija promienie X tylko jeśli spełnione są warunki Laue’a lub Bragga. Rozkład odbić pozwala na obliczenie stałej sieciowej i struktury badanego kryształu.

P7.1.2.1 Odbicie Bragga: określenie stałej siatki dyfrakcyjnej pojedynczych kryształów

W doświadczeniu P7.1.2.1, odbicie Bragga promieniowania Mo-K a (l = 71.080 pm) na monokryształach NaCl i LiF użytych do wyznaczenia stałej sieciowej. Składowa Kb promieniowania X może być stłumiona za pomocą cyrkonowego filtru.

P7.1.2.2 Wykresy Lauego: badanie struktury sieci krystalicznej pojedynczych kryształów

W celu sporządzenia wykresów Laue na monokryształach NaCl i LiF, promieniowanie hamowania aparatu rentgenowskiego jest użyte w doświadczeniu P7.1.2.2 jako „białe“ promieniowanie X. Położenie „zabarwionych“ odbić na błonie rentgenowskiej za kryształem i ich natężenia mogą być użyte do wyznaczenia struktury kryształu i długości osi kryształu poprzez zastosowanie warunku Laue.

P7.1.2.3 Fotografia Debye’a-Scherrera: określanie odstępów w płaszczyźnie siatki próbek z polikrystalicznego proszku

W doświadczeniu P7.1.2.3, fotografie Debye’a-Scherrera są produkowane przez naświetlanie próbek drobnego proszku kryształowego promieniowaniem Mo-K a.

Wśród wielu nieuporządkowanych krystalitów próbki, promienie X uginają się na tych o orientacji zgodnej z warunkiem Bragga.

Odchylone promienie opisują przekroje stożkowe dla których kąty apertury J mogą być wyprowadzone z fotografii. Doświadczenie to wyznacza skok siatki odpowiadający J jak również indeksy Laue’a h, k, l, i tym samym strukturę sieciową krystalitu.

 P7.1.2.4 Skanowanie Debye’a-Scherrera : określanie odstępów w płaszczyźnie siatki próbek z polikrystalicznego proszku

Doświadczenie P7.1.2.4, które jest analogiczne do doświadczenia P7.1.2.3, używa licznik okienkowy zamiast błony rentgenowskiej. Odchylone odbicia drobnego proszku próbki są rejestrowane w funkcji podwójnego kąta padania 2J. Z pików natężenia spektrum dyfrakcji można obliczyć oddzielenie sąsiadujących płaszczyzn sieciowych.

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś
    • Miernik wielofunkcyjny Sonel MPI-530 z wyposażeniem standardowym i certyfikatem kalibracji! Przy zakupie miernika otrzymasz rabat na ponowne wzorcowanie miernika w laboratorium Merazet S.A. Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich…
      Sonel
    • Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator Parametry które wyróżniają oscyloskopy serii GDS100A-U od konkurencji: pamięć 2M – Technologia MemoryPrime *. funkcja GO/NoGO funkcja Data Logger – rejestrator…
      GW Instek
    • GPT-9804 – Tester Bezpieczeństwa Elektrycznego 4-w-1 (AC/DC/IR/GB, 200 VA)   GPT-9804 to najbardziej rozbudowany model serii GPT-9800, łączący w jednym urządzeniu cztery kluczowe testy bezpieczeństwa: Hipot AC, Hipot DC, pomiar…
      GW Instek
    • Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK Wysokiej jakości przenośny cyfrowy oscyloskop z izolowanymi kanałami 600V KAT III,  o paśmie 20 MHz. Funkcje i parametry 19 automatycznych pomiarów, 2 niezależne multimetry, rejestracja…
      Metrix
    • Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux Analizator CA 8335 to idealne rozwiązanie do obserwacji, monitorowania oraz rejestracji zdarzeń oraz parametrów jakości energii elektrycznej. Został zaprojektowany aby ułatwić i…
      Chauvin Arnoux
    • Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością Komory do symulacji warunków środowiskowych serii MKF marki BINDER nadają się idealnie do wszelkich testów zimna i ciepła,…
      Binder
    • Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
      Defelsko
    • Mikroskopy odwrócone serii AE2000 Cena dla modelu AE2000 Binocular (halogen 30W) Mikroskop odwrócony AE2000 został stworzony z myślą o rutynowej obserwacji hodowli komórkowych. Najnowsza seria obiektywów z systemu CCIS® gwarantuje…
      Motic

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik
    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: