Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P7.1.2 Rozpraszanie promieni Rentgena – Leybold

Dodaj do zapytania

Opis produktu – P7.1.2 Rozpraszanie promieni Rentgena – Leybold

Zestaw doświadczeń: Rozpraszanie promieni Rentgena

Promieniowanie X jest zasadniczym narzędziem do wyznaczania struktury kryształów.

Płaszczyzna sieciowa wewnątrz kryształu jest identyfikowana przez indeksy Millera h, k, l oraz odbija promienie X tylko jeśli spełnione są warunki Laue’a lub Bragga. Rozkład odbić pozwala na obliczenie stałej sieciowej i struktury badanego kryształu.

P7.1.2.1 Odbicie Bragga: określenie stałej siatki dyfrakcyjnej pojedynczych kryształów

W doświadczeniu P7.1.2.1, odbicie Bragga promieniowania Mo-K a (l = 71.080 pm) na monokryształach NaCl i LiF użytych do wyznaczenia stałej sieciowej. Składowa Kb promieniowania X może być stłumiona za pomocą cyrkonowego filtru.

P7.1.2.2 Wykresy Lauego: badanie struktury sieci krystalicznej pojedynczych kryształów

W celu sporządzenia wykresów Laue na monokryształach NaCl i LiF, promieniowanie hamowania aparatu rentgenowskiego jest użyte w doświadczeniu P7.1.2.2 jako „białe“ promieniowanie X. Położenie „zabarwionych“ odbić na błonie rentgenowskiej za kryształem i ich natężenia mogą być użyte do wyznaczenia struktury kryształu i długości osi kryształu poprzez zastosowanie warunku Laue.

P7.1.2.3 Fotografia Debye’a-Scherrera: określanie odstępów w płaszczyźnie siatki próbek z polikrystalicznego proszku

W doświadczeniu P7.1.2.3, fotografie Debye’a-Scherrera są produkowane przez naświetlanie próbek drobnego proszku kryształowego promieniowaniem Mo-K a.

Wśród wielu nieuporządkowanych krystalitów próbki, promienie X uginają się na tych o orientacji zgodnej z warunkiem Bragga.

Odchylone promienie opisują przekroje stożkowe dla których kąty apertury J mogą być wyprowadzone z fotografii. Doświadczenie to wyznacza skok siatki odpowiadający J jak również indeksy Laue’a h, k, l, i tym samym strukturę sieciową krystalitu.

 P7.1.2.4 Skanowanie Debye’a-Scherrera : określanie odstępów w płaszczyźnie siatki próbek z polikrystalicznego proszku

Doświadczenie P7.1.2.4, które jest analogiczne do doświadczenia P7.1.2.3, używa licznik okienkowy zamiast błony rentgenowskiej. Odchylone odbicia drobnego proszku próbki są rejestrowane w funkcji podwójnego kąta padania 2J. Z pików natężenia spektrum dyfrakcji można obliczyć oddzielenie sąsiadujących płaszczyzn sieciowych.

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś
    • Zestaw DL SOLAR-L pozwala skorelować szkolną fizykę z praktycznym wykorzystaniem ogniw fotowoltaicznych. System został zaprojektowany w taki sposób, aby większość eksperymentów można było przeprowadzić przy normalnym oświetleniu pomieszczenia. Zewnętrzny prąd…
      Delorenzo
    • Kurs maszyny elektryczne część 1 Kurs dotyczący metod łączenia i rejestracji właściwości silników elektrycznych i generatorów. Dzięki zintegrowanemu systemowi testowania maszyn możliwe jest przeprowadzenie wielu eksperymentów, m.in. zapisu momentu obrotowego….
      Leybold
    • Eksperyment P6.3.3.3 mierzy, w jaki sposób graniczna długość fali xcexbbmin kontinuum promieniowania bremsstrahlung zależy od wysokiego napięcia U lampy rentgenowskiej. Gdy zastosujemy zależność Duane'a-Huntado danych pomiarowych, możemy wyprowadzić stałą Plancka…
      Leybold
    • System dydaktyczny do teoretycznego i praktycznego badania urządzeń wykorzystujących energię słoneczną do uzyskiwania ciepłej wody do celów sanitarnych i podobnych usług. Jest to system z wymuszonym obiegiem o szerokim zakresie…
      Delorenzo

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik
    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: