Kontakt
Znajdź nas:
Twój schowek
(0)
0 szt.(0,00 )
Zaloguj się
Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P5.7.2 Spektrometr siatkowy – Leybold

Kategorie:

Dodaj do zapytania

Opis produktu – P5.7.2 Spektrometr siatkowy – Leybold

 

P5.7.2.1 Pomiar linii widma gazów obojętnych i oparów metali za pomocą spektrometru pryzmatycznego

P5.7.2.2 Podłączenie spektrometru siatkowego w celu pomiaru krzywych transmisji

P5.7.2.3 Podłączenie spektrometru siatkowego w celu pomiaru linii widmowych

P5.7.2.4 Oznaczanie stałej dyfrakcyjnej dla siatki hologramowej z zamontowanym laserem He-Ne

P5.7.2.5 Badanie widma lampy ksenonowej z siatką hologramową

 

Aby stworzyć spektrometr dyfrakcyjny, kopia siatki dyfrakcyjnej Rowlanda jest umieszczona na podstawie pryzmatu goniometru zamiast prymatu.

Droga propagacji w spektrometrze dyfrakcyjnym jest analogiczna do drogi w spektrometrze pryzmatycznym (zobacz P 5.7.1.1). Jednakże, w tej konfiguracji odchylenie promieni przez siatkę dyfrakcyjną jest proporcjonalne do długości fali:

        sin Δµ = n · g ·l

 

               n: rząd dyfrakcji

 

g: stała siatki dyfrakcyjnej

l: długość fali

Δa: kąt odchylenia linii spektralnej n-rzędu

 

W skutek tego, długości fal obserwowanych linii spektralnych mogą być obliczone bezpośrednio ze zmierzonych kątów odchylenia.

W doświadczeniu P5.7.2.1, spektrometr dyfrakcyjny jest używany do obserwacji linii spektralnych gazów szlachetnych i oparów metali wzbudzonych do świecenia.

Aby zidentyfikować początkowo “nieznaną” linię spektralną, mierzone są kąty odchylenia i przekształcana na odpowiednie długości fali.

 

Rozdzielczość spektrometru dyfrakcyjnego jest wystarczająca do wyznaczenia odległości pomiędzy dwoma żółtymi D-liniami sodu l(D1) – l(D2) = 0,60 nm z dokładnością 0.10 nm. Jednakże, ta wysoka rozdzielczość jest osiągana kosztem strat natężenia jako, że znacząca część promieniowania jest tracona w nieugiętym rzędzie zerowym i reszta jest rozkładana przez wiele rzędów dyfrakcji po obu stronach rzędu zerowego.

Używając w połączniu ze spektrometrem dyfrakcyjnym, jednoliniowa CCD kamera VideoCom idealnie nadaje się do względnych pomiarów rozkładu natężenia spektralnego. W takim pomiarze, każdy piksel kamery CCD jest przypisany do długości fali

      

                  l = d · sin a

 

w pierwszym rzędzie dyfrakcji siatki dyfrakcyjnej. Spektrometr jest montowany na ławie optycznej za pomocą poszczególnych komponentów. Siatka dyfrakcyjna w tym doświadczeniu jest kopią siatki dyfrakcyjnej Rowlanda z ok. 6000 liniami/cm. Obraz dyfrakcyjny za siatką dyfrakcyjną jest obserwowany przez VideoCom.

Oprogramowanie VideoCom umożliwia porównanie dwóch rozkładów natężeń i tym samym zarejestrowanie krzywej transmisji filtrów kolorów lub innych ciał przepuszczających światło. Rozkład natężenia spektralnego źródła światła jest mierzony z i bez filtra, stosunek dwóch pomiarów jest wykreślany w funkcji długości fali.

Doświadczenie P5.7.2.2 rejestruje krzywą transmisji filtrów kolorów.

Wykazane zostaje, że proste filtry są przepuszczalne dla bardzo szerokiego zakresu długości fali w zakresie widzialnym światła podczas, gdy tzw. filtry liniowe mają bardzo wąski zakres przepuszczania.

 

W doświadczeniu P5.7.2.3, spektrometr dyfrakcyjny jest montowany do obserwacji linii spektralnych gazów szlachetnych i oparów metali wzbudzonych do świecenia. Mierzona jest długość fali i natężenie linii spektralnych i następnie porównywane z wartościami literaturowymi.

 

Do montażu spektrometru dyfrakcyjnego o bardzo wysokiej rozdzielczości i wysokiej skuteczności użyta jest holograficzna siatka dyfrakcyjna z 24000 liniami/cm.

Straty natężenia są małe w porównaniu do siatki transmisyjnej.

W doświadczeniu P5.7.2.4 stała siatki dyfrakcyjnej holograficznej siatki dyfrakcyjnej jest wyznaczana dla różnych wartości kąta padania. Użytym źródłem światła jest laser He-Ne o długości fali l = 632.8 nm. Najlepsza wartość jest osiągnięta dla specjalnego przypadku, gdzie kąt padania i kąt dyfrakcji są jednakowe, tzw. warunek Littrowa.

 

W doświadczeniu P5.7.2.5 badane jest widmo lampy ksenonowej. Obraz dyfrakcyjny za holograficzną siatką dyfrakcyjną jest rejestrowany poprzez zmianę położenia ekranu i fotokomórki. Odpowiadający kąt dyfrakcji jest odczytywany na kołowej skali połączenia szynowego lub zmierzony przez czujnik ruchu obrotowego. Okazuje się, że widmo lampy wydającej się białej dla oka ludzkiego składa się z różnych linii spektralnych.

 

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś
    • Miernik wielofunkcyjny Sonel MPI-530 z wyposażeniem standardowym i certyfikatem kalibracji! Przy zakupie miernika otrzymasz rabat na ponowne wzorcowanie miernika w laboratorium Merazet S.A. Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich…
      Sonel
    • Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator Parametry które wyróżniają oscyloskopy serii GDS100A-U od konkurencji: pamięć 2M – Technologia MemoryPrime *. funkcja GO/NoGO funkcja Data Logger – rejestrator…
      GW Instek
    • GPT-9804 – Tester Bezpieczeństwa Elektrycznego 4-w-1 (AC/DC/IR/GB, 200 VA)   GPT-9804 to najbardziej rozbudowany model serii GPT-9800, łączący w jednym urządzeniu cztery kluczowe testy bezpieczeństwa: Hipot AC, Hipot DC, pomiar…
      GW Instek
    • Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK Wysokiej jakości przenośny cyfrowy oscyloskop z izolowanymi kanałami 600V KAT III,  o paśmie 20 MHz. Funkcje i parametry 19 automatycznych pomiarów, 2 niezależne multimetry, rejestracja…
      Metrix
    • Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux Analizator CA 8335 to idealne rozwiązanie do obserwacji, monitorowania oraz rejestracji zdarzeń oraz parametrów jakości energii elektrycznej. Został zaprojektowany aby ułatwić i…
      Chauvin Arnoux
    • Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością Komory do symulacji warunków środowiskowych serii MKF marki BINDER nadają się idealnie do wszelkich testów zimna i ciepła,…
      Binder
    • Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
      Defelsko
    • Mikroskopy odwrócone serii AE2000 Cena dla modelu AE2000 Binocular (halogen 30W) Mikroskop odwrócony AE2000 został stworzony z myślą o rutynowej obserwacji hodowli komórkowych. Najnowsza seria obiektywów z systemu CCIS® gwarantuje…
      Motic

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik
    Może Cię zainteresować

    Inne kategorie z grupy Zestawy edukacyjne – stoły elektrotechniczne

    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: