Kontakt
Znajdź nas:
Twój schowek
(0)
0 szt.(0,00 )
Zaloguj się
Aparatura kontrolno-pomiarowa. 
Dystrybucja, serwis, kalibracja

P6.1.5 Dualizm fali i cząstki – Leybold

Dodaj do zapytania

Opis produktu – P6.1.5 Dualizm fali i cząstki – Leybold

 

P6.1.5.1 Dyfrakcja elektronowa  w sieci polikrystalicznej (dyfrakcja metodą Debye’a-Scherrera)

P6.1.5.2 Dyfrakcja optyczna jako analogia do elektronowej w sieci polikrystalicznej.

 

W 1924, L. de Broglie jako pierwszy przedstawił hipotezę, że cząsteczki mogą mieć właściwości falowe w dodatku do właściwości korpuskularnych i że ich długości fal zależą od liniowego pędu p

 

l =h

    p

 

h: stała Planck'a

Jego hipoteza została potwierdzona w 1927 roku przez doświadczenie C. Davissona i L. Germera dyfrakcji elektronów na strukturach krystalicznych.

Doświadczenie P6.1.5.1 demonstruje dyfrakcję graficie polikrystalicznym. Jak w metodzie Debye’a-Scherrer’a z promieniami x, obserwujemy pierścienie dyfrakcyjne w kierunku promieniowania, które otaczają centralny punkt na ekranie. Są spowodowane przez dyfrakcję elektronów na płaszczyźnie sieciowej mikrokryształów spełniających warunek Bragga

 

        2 · d · sin J = n ·l

 

J: apertura kątowa pierścienie dyfrakcyjnych

d: odstęp płaszczyzn sieciowych

 

Jako, że struktura grafitu zawiera dwa odstępy płaszczyzn sieciowych, obserwujemy dwa pierścienie dyfrakcyjne pierwszego rzędu. Długość fali elektronów

 

jest wyznaczana przez napięcie przyspieszające U tak, że dla apertury kątowej pierścieni dyfrakcyjnych możemy powiedzieć

 

sinJ µ∝

 

Optyczna analogia do dyfrakcji Debye’a-Scherrera  (P6.1.5.2)

 

Doświadczenie P6.1.5.2 ilustruje metodę Debye’a-Scherrer’a użytą w rurze dyfrakcyjnej elektronów za pomocą światła widzialnego. Tutaj, równoległe, monochromatyczne światło przechodzi przez obrotową krzyżową siatkę dyfrakcyjną. Obraz dyfrakcyjny siatki dyfrakcyjnej w stanie spoczynku, składający się z punktów światła ułożonego wokół wiązki centralnej w strukturze sieciowej, jest odkształcona poprzez rotacje w pierścienie ułożone koncentrycznie wokół punktu środkowego

 

Zapytaj o produkt
Nasi sprzedawcy pomogą Państwu dobrać odpowiednią aparaturę.

    Formularz kontaktowy

    Profesjonalna aparatura

    Serwis i kalibracja

    Prezentacje

    Leasing i raty

    Solidny partner

    Ostatnio oglądałeś
    • Miernik wielofunkcyjny Sonel MPI-530 z wyposażeniem standardowym i certyfikatem kalibracji! Przy zakupie miernika otrzymasz rabat na ponowne wzorcowanie miernika w laboratorium Merazet S.A. Miernik wielofunkcyjny najnowszej generacji pozwalający na wykonanie wszystkich…
      Sonel
    • Oscyloskop cyfrowy GDS-1072A-U 2x70MHz 1GSa/s, pamięć 2M – rejestrator Parametry które wyróżniają oscyloskopy serii GDS100A-U od konkurencji: pamięć 2M – Technologia MemoryPrime *. funkcja GO/NoGO funkcja Data Logger – rejestrator…
      GW Instek
    • GPT-9804 – Tester Bezpieczeństwa Elektrycznego 4-w-1 (AC/DC/IR/GB, 200 VA)   GPT-9804 to najbardziej rozbudowany model serii GPT-9800, łączący w jednym urządzeniu cztery kluczowe testy bezpieczeństwa: Hipot AC, Hipot DC, pomiar…
      GW Instek
    • Przenośny oscyloskop HandScope 2x20MHZ OX5022-CK Wysokiej jakości przenośny cyfrowy oscyloskop z izolowanymi kanałami 600V KAT III,  o paśmie 20 MHz. Funkcje i parametry 19 automatycznych pomiarów, 2 niezależne multimetry, rejestracja…
      Metrix
    • Analizator jakości energii elektrycznej C.A 8335 Chauvin Arnoux Analizator CA 8335 to idealne rozwiązanie do obserwacji, monitorowania oraz rejestracji zdarzeń oraz parametrów jakości energii elektrycznej. Został zaprojektowany aby ułatwić i…
      Chauvin Arnoux
    • Komory klimatyczne Binder MKF z kontrolą temperatury (-40°C do 180°C) i wilgotnością Komory do symulacji warunków środowiskowych serii MKF marki BINDER nadają się idealnie do wszelkich testów zimna i ciepła,…
      Binder
    • Mierniki grubości powłok PosiTector 6000, DeFelsko Positector 6000 to solidny, dokładny i prosty w obsłudze miernik wykorzystujący zjawisko indukcji magnetycznej i prądów wirowych. Służy do pomiaru grubości powłok na podłożach ferromagnetycznych…
      Defelsko
    • Mikroskopy odwrócone serii AE2000 Cena dla modelu AE2000 Binocular (halogen 30W) Mikroskop odwrócony AE2000 został stworzony z myślą o rutynowej obserwacji hodowli komórkowych. Najnowsza seria obiektywów z systemu CCIS® gwarantuje…
      Motic

    Zarejestruj miernik kupiony w Merazet i odbierz 10% zniżki na wzorcowanie!

    Rejestruje miernik
    Zaufali nam

    Zaufali nam klienci instytucjonalni, firmy przemysłowe, laboratoria, oraz klienci indywidualni. Między innymi firmy

    Masz pytania?

    48 61 8644 600
    poczta@merazet.pl

    Każdy produkt w ofercie posiada dedykowanego opiekuna handlowego.
    Wybierz producenta albo model produktu i znajdź sprzedawcę: